Produktneuheit 18. März 2024
Großflächige Form- und Rauheitsmessung mit einem System
Das neue TopMap Pro.Surf+ bestimmt Formabweichung und Oberflächenrauheit bequem in einem – schnell, zuverlässig und präzise. Die High-End-Lösung TopMap Pro.Surf wird zu einem All-In-One Gerät aufgerüstet – dank des integrierten Rauheitssensors und neuem Datenerfassungskonzept. TopMap Pro.Surf+ ist optimal zur schnellen und einfachen Messung präzisionsgefertigter Oberflächen – im Messraum, produktionsnah und dank hoher Wiederholpräzision auch direkt in der Produktionslinie.
Für alle Belange der Oberflächencharakterisierung anhand von Parametern wie Ebenheit, Stufenhöhen, Parallelität plus Rauheit bietet das TopMap Pro.Surf+ kundenspezifische Lösungen. Dabei bestechen insgesamt die räumliche Auflösung, die telezentrische Optik und die Geschwindigkeit.
Dank der Kombination eines Weißlichtinterferometers mit der chromatisch-konfokalen Technologie bleiben keine Details unbemerkt. Ohne Stitching werden 2 Millionen Messpunkte auf einer großen Messfläche von 44 x 33 mm binnen weniger Sekunden erfasst – erweiterbar sogar auf 230 x 220 mm. Mit 70 mm vertikalem Messbereich und exzellenter vertikaler Auflösung unabhängig der Bildfeldgrößen ergibt sich viel Spielraum für flexible Messaufgaben. Die telezentrische Optik erreicht dabei selbst schwer zugängliche Bereiche wie zum Beispiel Bohrungen.
In der neuen Generation hilft die noch schnellere Datenerfassung, Taktzeiten und erforderliche Geschwindigkeit einzuhalten. Integrierte Bildverarbeitungswerkzeuge wie automatische Mustererkennung (pattern recognition) beschleunigen die Qualitätssicherung enorm. Mehrere Prüflinge werden gleichzeitig mit einer Messung erfasst – ohne mechanische Aufnahme bei beliebiger Anordnung im Bildfeld.
Für alle Belange der Oberflächencharakterisierung anhand von Parametern wie Ebenheit, Stufenhöhen, Parallelität plus Rauheit bietet das TopMap Pro.Surf+ kundenspezifische Lösungen. Dabei bestechen insgesamt die räumliche Auflösung, die telezentrische Optik und die Geschwindigkeit.
Dank der Kombination eines Weißlichtinterferometers mit der chromatisch-konfokalen Technologie bleiben keine Details unbemerkt. Ohne Stitching werden 2 Millionen Messpunkte auf einer großen Messfläche von 44 x 33 mm binnen weniger Sekunden erfasst – erweiterbar sogar auf 230 x 220 mm. Mit 70 mm vertikalem Messbereich und exzellenter vertikaler Auflösung unabhängig der Bildfeldgrößen ergibt sich viel Spielraum für flexible Messaufgaben. Die telezentrische Optik erreicht dabei selbst schwer zugängliche Bereiche wie zum Beispiel Bohrungen.
In der neuen Generation hilft die noch schnellere Datenerfassung, Taktzeiten und erforderliche Geschwindigkeit einzuhalten. Integrierte Bildverarbeitungswerkzeuge wie automatische Mustererkennung (pattern recognition) beschleunigen die Qualitätssicherung enorm. Mehrere Prüflinge werden gleichzeitig mit einer Messung erfasst – ohne mechanische Aufnahme bei beliebiger Anordnung im Bildfeld.
Polytec GmbH
Ansprechpartner
Herr Matthias Pauli